В микроэлектронике для изготовления полупроводниковых приборов и интегральных схем довольно таки часто будет использована специальная микросварка. Именно данный способ дает реальную возможность выполнить разные задачи с учетом определенных особенностей.
В данном случае важно знать именно то, как происходит процесс сварки, а также как воздействует лазер на конкретные полупроводники. При микросварке проводников с тончайшими пленками размеры объектов крайне малые, а сам проводник может быть не толще человеческого волоса, а соответственно толщина самой пленки измеряется долями микрометра.
Так что традиционные и популярные методы для измерения теплового режима сварки, такие, как, например, термопара, не годятся: в подобном случае размеры образца для исследования меньше регистрирующей системы. Просто нужно помнить, что установка ультразвуковой микросварки даст возможность использовать для работы даже в самых сложных условиях.
Иногда для регистрации температурных полей можно будет использовать особый микроскоп, который активно работает только в самом инфракрасном диапазоне спектра. Но, наиболее удачным и в то же время удобным методом исследования может служить «естественная термопара».
Методом «естественной термопары» удается реально исследовать актуальный метод ультразвуковой приварки алюминиевого проводника к золотой пленке.
